汞CV測試系統

產品簡介
汞CV測試系統，用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試;

MCV-530L可測最大200mm的樣品。

產品型號：

更新時間：2025-12-01

廠商性質：生產廠家

訪問量：1253

產品咨詢 18117546256

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發光深能級瞬態譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統集成測試儀器租賃

顯微光電成像系統能夠實時捕捉和觀察樣品的動態變化

詳細介紹在線留言

Capability:

Epi layer characterization
-Dopant Profile-N(x)
-Resistivity Profile-p(x)
Gate metrology
-Oxide thickness-EOT
-Flatland, threshold voltage-V_FB,V_T
Effective oxide charge-Q_EFF
-Dielectric constant-k
-Interface state density-Dit
IV measurements of low-k dielectricsStepped voltage, stepped current,
.Constant current modes
-Leakage current-l_L
-V_BDfor HMET
-Field-to-breakdown-F_BD
-K_S_B, t_sb,Q_B_D, V_max

汞CV測試系統

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：CV-1500非接觸CV測試系統