非接觸方塊電阻測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介
LEI88 是針對科研類客戶開發(fā)的產(chǎn)品，具備非接觸快速測試方塊電阻和電導率功能。

產(chǎn)品型號：LEI88

更新時間：2025-12-01

廠商性質：生產(chǎn)廠家

訪問量：1067

產(chǎn)品咨詢 18117546256

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級瞬態(tài)譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統(tǒng)集成測試儀器租賃

查看全部產(chǎn)品

顯微分光膜厚儀是一種高精度的測量儀器

共聚焦拉曼光譜儀的優(yōu)勢特點及維護保養(yǎng)方式

Newport單色儀的工作原理與應用領域概述

Hoya激光分析儀的測量方法介紹

詳細介紹在線留言

Capability:

非破壞
方塊電阻/電導率測試
適合科研應用

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務在行業(yè)內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：非接觸Hall和方塊電阻測試系統(tǒng)